日立評論

広視野で高精度に表面形状・層断面を計測する

走査型白色干渉顕微鏡 VS1000シリーズ

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Hitachi

日立評論

広視野で高精度に表面形状・層断面を計測する

走査型白色干渉顕微鏡 VS1000シリーズ

ハイライト

近年,スマートフォンの高機能フィルムや燃料電池の電解質膜には種々の薄膜が使われ,あるいは燃費向上のためのエンジンピストン表面の粗さ管理など,われわれの生活を支える技術基盤として薄膜および表面の計測技術は欠かせない。

この表面解析ソリューションの一つとして走査型白色干渉顕微鏡VS1000シリーズをリリースし,ラインアップを拡充した。走査型白色干渉顕微鏡は表面形状・表面粗さ・膜厚を三次元で計測可能な装置である。数ミリメートルの広い観察範囲を高い垂直分解能0.01 nmで,数秒程度の時間で計測することが可能である。さらに,透明多層膜の膜厚や層断面,あるいは層内部にある異物・はがれなどを非接触・非破壊で計測できる特徴を有する。

目次

執筆者紹介

小野田 有吾Onoda Yugo

  • 株式会社日立ハイテクサイエンス 設計本部 分析設計部 所属
  • 現在,走査型白色干渉顕微鏡の開発に従事
  • 博士(工学)
  • 応用物理学会会員

石橋 清隆Ishibashi Kiyotaka

  • 株式会社日立ハイテクサイエンス 営業本部 分析システム営業部所属
  • 現在,走査型白色干渉顕微鏡の事業に従事

柳川 香織Yanagawa Kaori

  • 株式会社日立ハイテクサイエンス 営業本部 応用技術部 所属
  • 現在,走査型白色干渉顕微鏡のアプリケーション開発に従事

佐藤 栄広Sato Yoshihiro

  • 株式会社日立ハイテクサイエンス 設計本部 開発設計部 所属
  • 現在,走査型白色干渉顕微鏡の開発,マネジメントに従事
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