2012年2月号

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特集　測る──社会・産業分野に貢献する計測技術

report

• 「電界放出形電子顕微鏡の実用化」がIEEEマイルストーンに認定

overview

• 測る──社会・産業分野に貢献する計測技術

• 微細計測への挑戦
  ─走査電子顕微鏡「SU9000」─
• 二次電子による原子分解能像観察
  ─走査透過電子顕微鏡「HD 2700」─
• 原子レベル計測のための試料自動作製技術
  ─FIBマイクロサンプリング「NB5000」─
• イトカワ表面微粒子のナノ構造解析
  ─雰囲気遮断FIB-SEM「NB5000」/STEM「HD-2700」システム─
• 1Xnm半導体プロセスの工業計測
  ─新型測長SEM「CG5000」と計測アプリケーション─
• 次世代の高速高感度検査
  ─ミラー電子顕微鏡技術の可能性─
• ナノ立体形状の定量計測
  ─探針補正技術と高感度光干渉変位センサー─
• 地球環境のモニタリング
  ─高解像度衛星画像によるリモートセンシング─
• 微量危険物の高速高感度計測
  ─公共空間の安全に貢献する爆発物探知システム─
• プロジェクト損益の変動予兆検知モデル
  ─プロジェクトの定量管理とシステムダイナミクスによる変動予測─

topics

• 卓上サイズの走査電子顕微鏡
  ─卓上顕微鏡 Miniscope「TM3000」─
• 多様な分野で貢献する組成分析装置
  ─新型高速液体クロマトグラフ「Chromaster」─
• 複数人の脳活動をリアルタイム計測
  ─超小型の頭部近赤外線光計測装置─
• 組織内コミュニケーションを可視化
  ─「ビジネス顕微鏡」で知識創造活動を支援─

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